21. Scanning probe microscopy for industrial applications :
پدیدآورنده : edited by Dalia G. Yablon.
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Materials-- Microscopy.,Scanning probe microscopy-- Industrial applications.,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Nanotechnology & MEMS.
رده :
TA417
.
23
.
S33
2014
22. Scanning probe microscopy for industrial applications
پدیدآورنده : / edited by Dalia G. Yablon
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Materials--Microscopy,Scanning probe microscopy--Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
S33
2014
23. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology
پدیدآورنده :
موضوع : ، Scanning probe microscopy.,Microscopy ، Nanostrutured materials
۴ نسخه از این کتاب در ۴ کتابخانه موجود است.
24. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology
پدیدآورنده : / edited by Bharat Bhushan
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Scanning probe microscopy,Nanostructured materials - Microscopy
رده :
QH212
S33S383
2011
25. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, editor
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Scanning probe microscopy,Nanostructured materials--Microscopy
رده :
QH212
.
S33S383
2010
26. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology
پدیدآورنده : / edited by Bharat Bhushan
کتابخانه: المكتبة المركزية ومركز الأرشيف (طهران)
موضوع : Scanning probe microscopy,Nanostructured materials,-- Microscopy
رده :
620
.
11299
S283
2010